奥林巴斯SZX16的报价

　　下面为北京大学地质与资源系的张老师做的一些性价比比较好的配置的推荐，还有关于体式显微镜的原理以及优劣的介绍。

　　一、左右两光学系统光轴的偏差

　　原部标准JB1784一76关寸1这一个偏差引起的双象是用限定山物镜给出的像点在目镜前焦平面L的位置来控制的。实践证明这种方法还不能圆满解决光轴偏差的控制问题。因为人们是通过整个显微镜系统(物镜+目镜)来观察物体的，所以不能排除日镜的影响，如目镜光轴与目镜外壳的机械轴线及光孔中心是否重合;卜}镜视场光阑中心与目镜管的机械轴线的重合性及门镜管与日镜外壳之间的配合间隙等都会破坏体视效应。

　　在理想情况下，显微镜光学系统的光轴与镜管的机械轴线是重合的，但是通过转像棱镜以后，成像光束的方向(如果成像光束是由轴上点发出的也就代表了光轴方向)就有可能偏离正确的力方向，原部标准用标准的0.lmm十字分划目镜控制这个偏差当然是十分必要的，但是是不全面的。因为用标准目镜进行装调检查时，虽然物方轴上点的像落在视场中心(习惯上把视场中心的点看做是轴上点)，但实际上当人们用仪器时用的是一般的观察目镜，该像点就不一定处在目镜视场的中心—目镜前焦点上。试设想该像点在目镜前焦平面上离光轴仅0.lmm，若所用的目镜为10x，则自目镜出射的光束轴线就会与日镜系统的光轴相交成13‘45“。如果山于转像棱镜及目镜系统的综合影响使光轴的偏).1，坦过一定限度以后，就有可能使同一物点在两眼中的视网膜上的像不处在对应点土而产生双像。

　　1988年颁布的体视显微镜国家标准GB10155规定用10x目镜调节在零视度的条件下对左右两光学系统光轴的方向进行控制是很大的改进。1989年国际标准化组织150/TC172/SC5/WGS文件中也是提出明左右两光学系统之间光轴的差异来控制的，l(li且检查条件也与我国国标相同。为了在生产中控制和检验左右两光学系统光轴间的偏差，这里提出如下的方法二(见图5)。

　　原理根据显微镜系统的工作原理，由物镜给出的物平面像位十目镜前焦平面上，所以轴l二物点通过显微镜系统出射的光线是平行光，可以用望远镜来接收同时两显微镜的光轴相交成一定的角度，所以用来接收光束的望远镜亦应相交成一定的角度。理论上两望远镜光轴所组成的平面与两显微镜光轴组成的平面处于同一个平面之内。

　　检测仪器根据上述原理建立起来的检测仪器应有调整装置，即使望远镜能整组上下调节;两望远镜光轴间的夹角应能调节且调节时光轴只能在同一平面内位移以保证精度;望远镜组两光轴组成的平面应能绕水平轴作俯仰角度调节以适应不同体视显微镜目镜筒倾斜度的需要并便十瞄雕目标;望远镜组还应能够在两光轴组成的平面内作左右摆动的调节。

　　为了得到准确的检测结果，检测仪器的调节还必须满足以下条件:

　　1.山图4的试验我们知道当人眼两瞳孔中心的联线与显微镜两出瞳中心的连线不平行时就会产生双象的感觉山于体视显微镜两个出瞳的位置在理论上是等高的，如果安放显微镜的台面是水平的，则显微镜两出瞳中心的连线也是水平的，因此望远镜组两个望远镜出瞳中心(或人瞳中心)的连线必须调整成水平的这也可由仪器设计者在设计结构时就一考虑到。

　　2.山于望远镜组两个望远镜光轴间的夹角是可以变化的，因此在检测时应该有一个相对基准。教理想情况下认为显微镜光轴应与镜管的机械轴线重合的，所以可以把镜管的机械轴线作为相对基准方法是用两个定中[1镜插入显微镜的镜管中，从物方护以照明。山于对中目镜在制造时使「l镜分划板十字线交点和目镜光轴以及目镜光轴和目镜外壳的机械轴线是重合的且分划板位十目镜的物方焦面_匕同时对中目镜的外壳和镜管之间的配合是很精密的。因此对中目镜插人显微镜目镜管后其光轴可以代表显微镜目镜管的机械轴线，被照明的对中目镜可以看做平行光管，出射的光线能被望远镜接收，据此我们可以确定两望远镜光轴之间夹角的大小。不使用特制的对中目镜是不可能确立相对基准的。

　　3、用十检测的望远镜组，其中一个望远镜是用来瞄准的，另一个用来测量。用于瞄准的分划板可以只是一个十字线，而用于测量的望远镜则应在分划板上刻有分度并标注所代表的角值。在进行测量前的调整时，要使显微镜物方分划板的十字线成像在对中目镜的前焦平面上(对中目镜的焦平面在镜管内的位置应调整得与体视显微镜观察目镜前焦平面在镜管内的位置相同)，该十字线像与对中目镜分划板十字线通过望远镜所成的像都应与瞄准用望远镜的目镜分划板上的十字刻线重合。同时在测量用望远镜的分划板上，对中月镜束，完全不同于普通光线的杂乱无章、易受干扰和难以聚焦。激光光束可在视距内直线传播，容易由电信号调制，与光纤配合可代替微波多路通信。激光还在光电存贮、光电印刷、光电录音、光电录象等方面不断扩大应用范围。功率激光器在工业的精细加工、医疗和武器等方面显示其重要性。功率的PS级激光更是研究半导体材料和物质结构的重要手段。

　　激光信号容易产生和传输，电信号便于处理，这种光电结合获得异常的成功。随着光电应用领域的开拓，在光电产生、放大、检测、导向、调制、解调的各个环节中，都有光电特性的测量，需要相应的光电测量仪器。光电技术作为一门学科，现在正式定名为光子学，以别于以电子现象为主的电子学。90年代光电测量仪器也成为电子测量仪器的重要分支，并会有快速的发展。目前光电测量仪器大部分以电子测量仪器作基础，在前端加上光电变换器而构成。90年代将会有真正的光子学测量仪器出现。

　　光电测量仪器大都可在电子测量仪器中找到相应产品，如光电信号源、光、波长计、光功率计、光谱仪、光示波器、_光时域反射计、光/电和电/光调制器等等。当然还有专用的光电测量仪器，如激光二极管特性、光纤特性、光盘特性测量系统。值得一提的是松滨光电子公司的光取样示波器050一01，是具有30GHz等效带宽的采用条纹照相管成像的光电测量仪器。

　　90年代电子测量仪器的发展趋势，综上所述可用多快好省来概括:更多—电子测量仪器的应用领域扩大，出现更多的类别(光电测量仪器)，更多的品种(调制域仪器)，更多的产品(VXI总线)，更多的器件(门阵列、ASIC电路、DSP芯片)，更多的方法(模拟信号的数字处理)，更多的标准在执行(SCPI)。

　　更快—模拟信号由数字处理，运算速度提高，出现数字示波器、数字频谱仪、数字合成的任意波形产生器;取样原理继续发挥作用，等效带宽超过10OGHz;光子学的激光器件使脉冲进人到PS范围。总的来说，频率更高和速度更快。更好—微处理机的性能提高，门阵列和机辅设计的成熟，电子测量仪器的性能必然更好和更灵巧，智能程度更高，生产周期缩短。SCPI语言的普及和测量专用软件包的多种多样，电子测量仪器对使用者更为友好。

　　更省—单片仪器和插卡仪器的出现，在性能不变下价格更便宜，或者在价格不变时性能提高。电子测量仪器的体积越来越小巧，物理面板由显示屏幕上的虚拟面板来代替。利用VXI总线系统构成的测量整机要比机箱堆叠式系统更经济可靠，并成为主要的自动化测量系统。

　　电子测量仪器产品的竞争也更为激烈，大公司将遇到中小公司的挑战。因为硬件来源相差不多和仪器标准是开的，故开发性能优良的软件和良好的技术支援，将是关键所在。回顾20年前，计算机产业集中在以IBM为首的五十家左右的公司，现在能生产微型计算机的起码上千家中小公司。虽然电子测量仪器的市场较窄，由HP为首的十家左右大公司垄断的时代已过去，中小公司也能生产出性能很好的产品。

　　分划板的十字线像应和望远镜分划板十字刻线重合。上述要求可以经过反复调整达到。这时两望远镜光轴间的夹角已经确定，在根据目镜管的机械轴线确定光轴的夹角以后，便不能再触动调节纽以免夹角发生变化而影响测量结果。

　　在正式进行测量时只须取下对中目镜换土10X观察日镜，用瞄准用望远镜仔细瞄准后便可读数。偏差的容许值国家标准已有明确规定。

　　二、左右两光学系统像面方位不一致性

　　如果通过体视显微镜看到的左右两个像面上的像的方向不一致性超过了定的限度，那末同一物点的像在人左右两个眼睛的视网膜上就不处在对一应点上而产生双像的感觉。

　　关于像面方位不一致性的控制只需在上面提到的望远镜组中的测量望远镜的目镜分划板上加设一个旋转机构，旋转中心应很好地调整在光轴上。当瞄准用望远镜中目镜分划板十字线与体视显微镜物方分划板十字线像重合时，就转动测量用望远镜的目镜分划板，使分划板十字线与体视显微镜物方十字分划线像平行。这时，分划板转动的角度即为左右系统像面方位的不一致性。

　　这里要着重指出的是由于体视显微镜中所采用的转像棱镜不同，左右像方位不一致性随不同的设计而有很大的差别。以国外产品为例，日本Olympus公司的52一扭型体视显微镜左右像面方位不一致性可以不因瞳距的变化而变化。但若采用的是施密特棱镜(例如德国OPTON的IVb型体视显微镜)，其像面方位不一致性随瞳距增大而增大，最大可达4030‘。而瑞士wild厂的MS型体视显微镜虽然也采用类似的结构，但却在瞳距的中问位置上控制在极小的数值内，像的方位偏转在瞳距变大变小时朝不同方向分布。我认为这是一个很好的经验，因为如果只强调满足像面方位不一致性的要求而否定施密特棱镜在体视显微镜中的应用，将会使我国采用类似结构的体视显微镜不能生产，然而施密特棱镜的制造成本较低，按其性能价格比还有其一定的应用价值。

　　双目仪器通常使用的瞳距在57一70mm范围内。据统计人两眼瞳间的距离一般在56一72mm之间，平均值为63mm，女子的两眼间瞳距平均值要小一些，均为6lmm。所以我国国家标准规定在瞳距为63一65mm的条件下来控制左右两系统像面方位不一致性既满足了大多数使用者的需要又考虑到现有一些产品的现实情况，是非常合理的。